ReI

Repositorio Institucional del ITESO

Modelo de corriente de fuga en estructuras de unión p-n fabricados a base de nitruros del grupo III en fase cubica

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dc.contributor.author Martínez-Guerrero, Esteban
dc.date.accessioned 2013-06-14T15:34:30Z
dc.date.available 2013-06-14T15:34:30Z
dc.date.issued 2003-09-30
dc.identifier.citation E. Martínez-Guerrero, Modelo de corriente de fuga en estructuras de unión p-n fabricados a base de nitruros del grupo III en fase cubica, memorias, congreso CIE-2003 es
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11117/658
dc.description Mediante mediciones de SIMS, encontramos evidencia de difusión de impurezas residuales hacia el bulto de películas de GaN cubico no intencionalmente dopadas. El análisis de imágenes de espectroscopía de masas de iones secundarios (SIMS) revela que la difusión es propiciada por las fallas de apilamiento. La profundidad a la que las impurezas residuales difunden, concuerda con la distancia a la que la densidad de fallas de apilamiento alcanza su valor mínimo. Mediciones de microscopía electrónica en transmisión (TEM) muestran una alta densidad de fallas de apilamiento en las zonas de contacto ohmico de diodos de unión p-n fabricados con GaN cúbico. De acuerdo con datos reportados en la literatura que indican conducción parásita a través de defectos estructurales y con base en estos resultados, se propone un modelo de corriente de fuga en diodos de unión p-n de GaN cúbico que degradan su desempeño y/o provocan su falla. es
dc.description.sponsorship ITESO, A.C. es
dc.description.sponsorship Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología es
dc.language.iso spa es
dc.publisher Conference on Eletrical Engineering es
dc.relation.ispartofseries Conference on Eletrical Engineering;s/n
dc.rights.uri http://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-2.5-MX.pdf es
dc.subject GaN P-N Junctions es
dc.subject I-V Leackage Current Model es
dc.title Modelo de corriente de fuga en estructuras de unión p-n fabricados a base de nitruros del grupo III en fase cubica es
dc.type info:eu-repo/semantics/conferencePaper es
rei.revisor CIE_CINVESTAV
rei.peerreviewed Yes es


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