Estadísticas de Caracterización de películas delgadas de SiO2 mediante la técnica XPS en el Centro Universitario de Ciencias Exactas e Ingeniería, Universidad de Guadalajara, Guadalajara
Visitas totales
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| Caracterización de películas delgadas de SiO2 mediante la técnica XPS en el Centro Universitario de Ciencias Exactas e Ingeniería, Universidad de Guadalajara, Guadalajara | 42 |
Visitas totales por mes
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| December 2023 | 0 |
| January 2024 | 19 |
| February 2024 | 8 |
| March 2024 | 6 |
| April 2024 | 5 |
| May 2024 | 0 |
| June 2024 | 4 |
Visitas de archivo
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| RPAP_Vergara final.pdf | 5 |
Vistas principales por país
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|---|---|
| Mexico | 25 |
| United States | 11 |
| Bolivia | 1 |
| Germany | 1 |
| Spain | 1 |
| United Kingdom | 1 |
| Poland | 1 |
| Sweden | 1 |
Visitas principales por ciudad
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|---|---|
| Ciudad Juárez | 4 |
| Puebla City | 2 |
| Centro | 1 |
| Chalco | 1 |
| Guadalajara | 1 |
| Guamuchil | 1 |
| La Paz | 1 |
| London | 1 |
| Miami | 1 |
| New York | 1 |
| San Luis Potosí City | 1 |
| Tlajomulco de Zuniga | 1 |
| Valencia | 1 |