Estadísticas de Caracterización de películas delgadas de SiO2 mediante la técnica XPS en el Centro Universitario de Ciencias Exactas e Ingeniería, Universidad de Guadalajara, Guadalajara
Visitas totales
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| Caracterización de películas delgadas de SiO2 mediante la técnica XPS en el Centro Universitario de Ciencias Exactas e Ingeniería, Universidad de Guadalajara, Guadalajara | 67 |
Visitas totales por mes
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| octubre 2024 | 10 |
| noviembre 2024 | 0 |
| diciembre 2024 | 0 |
| enero 2025 | 0 |
| febrero 2025 | 4 |
| marzo 2025 | 8 |
| abril 2025 | 0 |
Visitas de archivo
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| RPAP_Vergara final.pdf | 5 |
Vistas principales por país
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| México | 49 |
| Estados Unidos | 11 |
| España | 2 |
| Bolivia | 1 |
| Alemania | 1 |
| Reino Unido | 1 |
| Polonia | 1 |
| Suecia | 1 |
Visitas principales por ciudad
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|---|---|
| León | 7 |
| Ciudad Juárez | 4 |
| Puebla City | 2 |
| Centro | 1 |
| Chalco | 1 |
| Guadalajara | 1 |
| Guamuchil | 1 |
| La Paz | 1 |
| London | 1 |
| Miami | 1 |
| New York | 1 |
| San Luis Potosí City | 1 |
| Teo | 1 |
| Tlajomulco de Zuniga | 1 |
| Valencia | 1 |