Validación eléctrica de memoria de alta velocidad. Intel Guadalajara Design Center
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Fecha
2016-05
Autores
Ruiz-Manuel, Iván
Título de la revista
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Editor
ITESO
Resumen
Descripción
Palabras clave
Vinculación Intel, Diseño y Validación, Diseño de Dispositivos, Circuitos y Sistemas Electrónicos, Desarrollo Tecnológico y Generación de Riqueza Sustentable