Pruebas automáticas a microcontroladores en NXP Semiconductors Guadalajara
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Fecha
2017-12
Autores
Martín-Martínez, Jorge A.
Título de la revista
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Editor
ITESO
Resumen
Descripción
Palabras clave
Vinculación NXP, Diseño y Pruebas, Diseño de Dispositivos, Circuitos y Sistemas Electrónicos, Desarrollo Tecnológico y Generación de Riqueza Sustentable