Pruebas automáticas a microcontroladores en NXP Semiconductors Guadalajara

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dc.contributor.authorMartín-Martínez, Jorge A.
dc.date.accessioned2018-06-29T17:14:20Z
dc.date.available2018-06-29T17:14:20Z
dc.date.issued2017-12
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11117/5499
dc.language.isospaes
dc.publisherITESOes
dc.rights.urihttp://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-2.5-MX.pdfes
dc.subjectVinculación NXP, Diseño y Pruebases
dc.subjectDiseño de Dispositivos, Circuitos y Sistemas Electrónicoses
dc.subjectDesarrollo Tecnológico y Generación de Riqueza Sustentablees
dc.titlePruebas automáticas a microcontroladores en NXP Semiconductors Guadalajaraes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises
rei.peerreviewedNoes
rei.revisorIslas-Espinoza, Juan M.

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